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土壤重金属测试仪各组成部件功能特点分享
土壤重金属测试仪各组成部件功能特点分享

2024-11-07

土壤重金属测试仪具有检测速度快、准确度高、操作简便等优点,广泛应用于环保机构的土壤污染监测、农业生产的土壤质量评估以及科研机构的土壤污染研究等领域。该仪器的出现,为及时发现并防止土壤重金属污染提供了有力支持,是保护土壤健康、保障农产品安全的重要工具。土壤重金属测试仪通常由多个部件...
  • 2022

    12-8
    一文与您分享XRF镀层测厚仪的常见故障解决方法 XRF镀层测厚仪主要用于金属材料表面涂镀层厚度的测量,一般常采用无损检测方法。但是由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引进了诸多测量误差,为确保测量结果的准确可靠,有必要对其进行不确定度分析。镀层厚度的测试方法按照测试方法的基本原理类型可以分为化学法、电化学法和物理法三大类。其中,化学法包括化学溶解分析法、化学溶解称重法和化学溶解液流计时法;电化学法包括电化学阳极溶解法(库仑法);物理法包括直接测量法和仪器测量法(磁性法、非磁性法、X射线法和电镜法等)。下面咱们来...
  • 2022

    12-1
    XRF镀层测厚仪常用到的测量方法分享 XRF镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量的检测仪器,主要用于电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。XRF镀层测厚仪常用到的测量方法都有哪些呢?1、磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。2、涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测...
  • 2022

    11-9
    不知道了吧!荧光镀层测厚仪有五种测量原理可选 荧光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量可以在10秒到几分钟内完成。今天小编要与大家分享的是荧光镀层测厚仪的五种测量原理:1、磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。2、超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多...
  • 2022

    11-2
    使用荧光镀层测厚仪时所应该遵守的规定分享 在当今社会,要实现对材料的保护或装饰作用,在化工,电子,电力,金属,家具等行业中通常采用喷涂油漆,有色金属,阳极氧化膜,电镀层等,若需要检测该物体表面的覆盖层厚度,即需要应用到荧光镀层测厚仪了。荧光镀层测厚仪测量时在空中按开机键开机,然后听到“bi”的一声,漆膜测厚仪进入测量状态,每次开机默认单次测量状态;将探头轻压到有涂层的金属基底上,测厚仪发出bibi两声,显示被测涂层厚度值n;按MODE键,可选择测量方式,有单次测量、连续测量、差值测量三种测量方式可供选择;按UNIT键...
  • 2022

    10-8
    简述XRF荧光光谱合金分析仪的常见故障原因及解决方法 XRF荧光光谱合金分析仪是根据X射线荧光光谱分析方法配置的仪器,由激发源(X射线管)和探测系统构成。能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量,具有灵敏度高、精密度好、性能稳定、分析速度快等特点,是一种中型、经济、高性能仪器。由产生荧光的原理可知,荧光从产生到*消失,它有一个时间过程(即从高能级的非稳态跃迁到低能级的亚稳态或稳态的时间)。不同的物质,这个时间的长短是不一样的,它们从几微秒到几分钟不等。我们可以给探测器的快门一个延迟时间,让激发光*消失后开始对荧光采样。在一些特...
  • 2022

    10-1
    简述XRF荧光光谱合金分析仪常用的三种测量方法 XRF荧光光谱合金分析仪是用于铜合金及其合金材料中硅、铜、铁、镁、钛、锰、铬、镍、锌、铜、锡、铅等元素分析的三通道光电分析仪。这一仪器在技术基础上,采用了“智能动态跟踪”和“标准曲线的非线性回归”等*技术,使传统的仪的日常调整和标样曲线的建立方法起了根本性的变化,现已大量地应用在冶金、机械、化工等三班倒连续作业以及杂技上对固定的场合,如炉前、成品来料化验等。该仪器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性,在仪器的软件上,要...
  • 2022

    9-26
    镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布 镀层测厚仪EDX8000Tplus全新发布经过多年研发,英飞思科学仪器全新推出X射线荧光光谱镀层测厚仪。主要优点:微光斑垂直光路,专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器(SDD)可实现快速,无损,高精度测量高分辨率样品观测系统,精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性...
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