技术文章_第(50)页－苏州英飞思科学仪器有限公司

2024-11-21

古董分析仪利用光谱分析、X射线荧光（XRF）等技术，对古董及艺术品进行非破坏性检测，分析其成分、年代及制作工艺。它能够精确测量古董中各种元素的含量，如钠、镁、铝、钙、铁等，通过比对数据库中的标准数据，判断古董的真伪、年代及产地。古董分析仪在长时间使用过程中，可能会出现故障。以下是...

2021
8-2

XRF荧光光谱仪制样方法的原理和依据 XRF荧光光谱仪制样方法的原理和依据样品处理是整个分析检测过程的重要组成部分。其目的是利用各种化学方法将测试元素以离子的形式从固（液）态样品中定量转移到测试溶液中。选择合理的样品分解方法可以大大简化分析程序，大大提高分析方法的适应性和准确性。设计样品处理的原则是：①保证样品中所有被测元素都定量转移到试液中，即样品必须*分解；②避免在样品处理过程中引入干扰元素，同时有助于去除干扰元素；③分解方法应尽可能简单、易操作、经济、快速、安全，尽量减少对环境的污染；④便于批量处理样品。要...
2021
8-2

什么是X荧光光谱石油快速硫分析测试仪？什么是X荧光光谱石油测硫仪？X射线荧光硫分析仪是一种基于X射线荧光光谱分析的测试光谱仪。X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪）是一种快速、无损的材料测量方法。其原理是用X射线激发源照射待分析的油样。样品中硫元素的内电子被敲除后，引起核外电子跃迁。当被激发的电子回到基态时，硫元素就会被放出。特征X射线。探测器接收这些硫元素的特征X射线信号，仪器软件系统将其转换为相应的测试强度。特征X射线强度与硫含量之间的关系是用标准物...
2021
8-2

使用X射线能量色散荧光光谱仪的测试程序和步骤使用X射线能量色散荧光光谱仪（XRFAnalyzer）的测试程序和步骤1光谱仪准备a)按照仪器的工作说明书给仪器通电，加热设备，按厂家说明书对仪器进行稳定。b)确保测试稳定，并按照制造商的说明使检测器稳定2校准a)根据仪器用户手册的说明，按照第7节的说明选择参考样品作为校准样品。样品中的元素浓度应该不一样。如果校准覆盖的元素多，浓度范围大，则需要大量的校准样品。由于以下原因，校准样品的数量有所减少：—用基本参数法校准（元素小于标准）—使用基本参数方法校准（使用具有相似元素的标...
2021
7-21

在 XRF 荧光光谱仪中使用压片法与直接测试粉末样品相比有哪些优势？在XRF荧光光谱仪中使用压片法与直接测试粉末样品相比有哪些优势？压片制备步骤X射线荧光光谱(XRF)对样品材料的制备高度敏感。压缩的水泥样品显示出更高的信噪比，与松散的粉末形式相比，它可以检测到最轻的元素。当元素组成被量化时，在预期值和松散粉末样品之间观察到明显的差异。当使用同一批水泥制备压缩颗粒时，这些差异将消失。XRF光谱分析信号由两部分组成：特征波长处的X射线发射峰对应于分析样品原子中发生的电子跃迁由松散束缚的外部电子散射的X射线的连续背景，发射峰叠加在其上这些特征X射...
2021
7-21

RoHS2.0 限制重金属、铅、镉、汞和铬的危害及其监测方法 RoHS2.0限制重金属、铅、镉、汞和铬的危害及其监测方法EDX-8000Brohs分析仪1.物质的理化常数国标号：CAS：7439-92-1中文名称：铅英文名称：Lead;LeadFlake别名：无分子式：Pb分子量：207.2熔点：327℃密度：相对密度（水=1）11.34（蒸气压：970℃溶解性：不溶于水，溶于硝酸、热浓硫酸、碱液，不溶于稀盐酸稳定性：稳定外观与性状：灰白色软粉末，切割面有光泽，延展性弱，延展性强危险标志：用途：主要用于电缆、电池、铅冶炼、废铜冶炼、印刷...
2021
7-21

X射线荧光光谱仪常见问题--EDXRF光谱仪系列英飞思科学仪器X射线荧光光谱仪常见问题--EDXRF光谱仪系列问：RoHS限制的六种物质是什么？答：六价铬、镉、铅、汞、多溴联苯和多溴二苯醚。问：RoHS限制的六种物质的含量限制是多少？答：六价铬为1000PPM，镉为100PPM，汞为1000PPM，铅为1000PPM，多溴联苯为1000PPM，多溴联苯醚为1000PPM。问：EDX9000B的检测范围是多少？答：它可以检测从钠到铀的各种元素。问：我们的设备可以做哪些测试？A：可做RoHS检测、卤素（Br、Cl）检测、玩具八...
2021
7-21

XRF能量色散X射线荧光光谱仪的基质基体干涉效应分析 XRF能量色散X射线荧光光谱仪的基质基体干涉效应分析a)激发辐射的散射过程会影响样品中元素的特征辐射强度。这是因为散射过程会影响光谱的背面。看法。此外，还有两个主要影响：b)样品中的激发辐射被吸收，其他元素（基质）发出由此产生的或荧光辐射。c)样品中其他元素的二次激发（增强）。—塑料材料：塑料样品中的基质会影响分析物的特征X射线强度，主要来自：—一次辐射的散射（主要是不连续的），这对背景光谱有很大的贡献—在荧光辐射中的吸收，主要是由PVC中的Cl、Ca、Ti、Zn、Sn等添加...

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