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及时发现并解决古董分析仪故障才能确保其准确性
及时发现并解决古董分析仪故障才能确保其准确性

2024-11-21

古董分析仪利用光谱分析、X射线荧光(XRF)等技术,对古董及艺术品进行非破坏性检测,分析其成分、年代及制作工艺。它能够精确测量古董中各种元素的含量,如钠、镁、铝、钙、铁等,通过比对数据库中的标准数据,判断古董的真伪、年代及产地。古董分析仪在长时间使用过程中,可能会出现故障。以下是...
  • 2022

    8-22
    干货满满X荧光光谱仪常见问题百问百答系列1---英飞思科学仪器 X荧光光谱白问百答---英飞思科学仪器‍Q:RoHS限制的六种物质有哪些?A:六价铬、镉、铅、汞、多溴联苯和多溴联苯醚。Q:RoHS限制的六种物质的最高含量限制分别是多少?A:六价铬是1000PPM、镉是100PPM、汞是1000PPM、铅是1000PPM、多溴联苯是1000PPM、多溴联苯醚是1000PPM。Q:EDX9000B能检测元素的范围是?A:可以检测从钠到铀之间的元素。Q:我们的设备可以做哪些测试?A:可做RoHS检测、卤素(Br和Cl)检测、玩具八大重金属检测、...
  • 2022

    8-19
    XRF矿石分析仪铁矿检测方法 一、背景介绍铁矿矿源复杂,基体效应比较严重,一般采用熔融法测量铁矿的主要组分TFe、MgO、SiO2、AL2O3、CaO。但使用熔融法耗时、不利于微量元素的测试,该应用报告使用具有超高计数率的X荧光光谱仪EDX9000B光谱矿石分析仪测量铁矿标准样品,采用归一法,计算铁矿组分中TFeOx的测量值和理论值的相关系数。验证铁矿压片和熔融法的测量结果,是否有较大的差异。二、测试方法在105℃的鼓风干燥箱中,对客户提供的铁矿粉末标样干燥4h。然后,对铁矿二次标样进行压片;使用X荧光光...
  • 2022

    8-19
    能量色散荧光光谱仪应用于古董考古分析测试 古陶瓷、古青铜器、古金器等金属文物和是古代文明的瑰宝,对世界文化和现代文明都具有重要的影响。现行的古器鉴定工作中,如何精确探究文物所藏成为最有待解决的问题。断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面,其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本与各地制陶原料的化学组成可以确定古陶瓷的产地,并可在一定程度上帮助判断古陶瓷的烧造年代;而通过检测保留在古陶瓷内部的记录其年代信息的各种载体,则可以较准确的进行断代。能量色散X荧光...
  • 2022

    8-19
    电子产品中六价铬检测方法详述 电子产品中六价铬检测本文针对电子行业中六价铬的测试,我们研究了目前主要应用六价铬与二苯卡巴肼生成紫色络合物,进行了萃取实验的研究,并确定了最佳萃取条件.为电子行业中六价铬含量测定,排除三价铬的干扰提出可靠依据.应用于此的主要是定性与定量两种测试,即点测试和比色测试,通过点测试发现含有六价铬时,再进一步用比色法测试确定其含量,这种方法已经在电子行业得到广泛的应用.铬在环境中以+3,+6价存在,Cr3+是人体正常新陈代谢作用所必需的微量元素,它参与人体的脂肪,葡萄糖,胆固醇的代谢...
  • 2022

    8-19
    XRF能量色散光谱仪水泥样品制备方法 粉末压样制样技术一、样品(简称标样)的配制X射线荧光分析与化学分析不同,荧光分析仪是一种相对测量仪器,它是通过测量一定数量已知结果的标准样品,建立相应的正确的数学模型后,才能得到准确的测量。也就是说:要达到好的测量效果,一组好标样与一台好仪器同样重要。好仪器由我公司提供,好标样得由用户化验室提供。好标样的标准是:有代表性,有一定的跨度范围,有准确的化学分析结果。具体要求如下:l数量:标准样品10-15个,每个标样50-100g。l代表性:能代表本厂实际生产的样品,是从实际生产...
  • 2022

    8-19
    XRF在废旧金属回收和分拣的应用 废金属常常被切碎,因此需要分拣以方便金属的再利用。通过分拣废金属,原本可能送去垃圾填埋场的金属得到再利用。另外,与从矿石中提炼原生原料相比,使用分拣的废金属可以降低污染和排放。如果分拣的金属的品质符合一定的标准,制造商可以使用废金属代替原生原料。废金属可包括以下类型:黑色金属和有色金属,重金属,高价值金属如镍或钛,铸造或锻造金属,以及其它各种合金。从切碎的报废设备(例如汽车或家用电器)中回收有色金属的重要性日益增加,这是因为可以以此方式回收多种原材料,例如铜或铝。但是,要使其...
  • 2022

    8-19
    X荧光镀层测厚仪膜厚仪用于检测汽车金属镀层厚度 镀层厚度是镀层检测的重要指标之一,准确测量镀层的厚度对保证镀层性能和节能节材有重要的意义.X射线应用非常广泛。除穿透检测外,X射线荧光(XRF)的特性还可用于元素分析和涂层厚度分析。厚度计算主要是根据基材和涂层材料之间的信号强度关系。薄膜厚度分析的方法很多,如X射线测厚、涡流、超声波等。这三个原则不同,使用的限度和可测量的范围也不同。X射线荧光涂层厚度分析,除生产外,如五金行业;电子行业也经常使用XRF方法进行涂层厚度分析,如PCB或MLCC等电子零件行业或半导体加工行业。通...
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