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热门关键词:X荧光光谱矿石分析仪,便携式移动XRF光谱仪,古董分析仪,石油快速测硫仪,真空型矿产元素分析仪
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及时发现并解决古董分析仪故障才能确保其准确性
2024-11-21
古董分析仪利用光谱分析、X射线荧光(XRF)等技术,对古董及艺术品进行非破坏性检测,分析其成分、年代及制作工艺。它能够精确测量古董中各种元素的含量,如钠、镁、铝、钙、铁等,通过比对数据库中的标准数据,判断古董的真伪、年代及产地。古董分析仪在长时间使用过程中,可能会出现故障。以下是...
2022
10-31
能量色散X荧光分析仪在测量古陶瓷(古董)中的主要元素化学组成的应用
能量色散X荧光分析仪EDX9000plus测量古陶瓷(古董)中的主要元素化学组成前言中国古陶瓷不仅历史悠久,而且生产地区广阔。真是代有名瓷,地有特色。很久以来就吸引着国内外收藏家、观赏家和各大博物馆的高度重视。由于中国古陶瓷在历史、文化艺术和科技上的突出成就,历来就价格不菲并出现仿制品,特别是近来利用现代科技手段精仿的各类名瓷更层出不穷。而正是由于如此对于古陶瓷的科学分析才有着举足轻重的意义。一仪器硬件技术要求1.根据所测试的化学成份元素种类,仪器必须配置抽真空样品腔2.再者...
2022
10-31
便携式X射线荧光光谱合金分析仪测定铜合金含量的应用分析
便携式X射线荧光光谱Compass500合金分析仪测定铜合金铜合金概述铜的性能可以扩展以适应许多工业应用和高科技产品。这是通过合金化过程实现的:用两种或多种不同的金属生产固体材料。通过将铜与其他金属结合,可以制造出适合几乎所有应用的一系列铜合金。目前,已知有400多种铜合金,每种都具有的性能组合,可满足多种应用、高质量要求、制造工艺和环境。纯铜具有任何商业金属中很好的导电性和导热性。铜比大多数金属更容易形成合金,并与多种合金元素形成以下合金。常见铜合金包括黄铜黄铜是一系列...
2022
10-27
便携式矿石分析仪真空型矿石成分分析光谱仪的分析检测应用
便携式矿石分析仪Compass-300真空型矿石成分分析光谱仪X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行快速地定性和定量分析技术,又称为现场X射线荧光矿石分析仪。根据现场分析的应用场景与采样方法,X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面,在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法;现场取样分析是指对待测...
2022
10-27
XRF荧光光谱元素分析仪常见问题解答-英飞思科学仪器
X射线荧光光谱元素分析仪常见问题解答-英飞思科学仪器能量色散型X荧光光谱仪分析问答答疑解惑1.什么是X射线荧光分析?答:(1)X射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为0.001‐10nm左右。X射线照射到物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线,ESI英飞思NT产品使用的是通过对第一种荧光X射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光X射线法原理。物质受到X射线的照射时,发生元素所固有的X射线(固有X射线或者特征X射线...
2022
10-26
XRF涂层测厚仪在涂层分析中的检测应用
XRF镀层测厚仪EDX-8000B涂层膜厚仪使用XRF进行涂层测量的好处准确的厚度测量有助于制造商提供优质产品,同时控制成本。涂层的厚度应与完成工作所需的一样厚;制造涂层太厚的产品会增加制造成本。客户还通过确保他们收到的材料涂有正确的材料和正确的厚度来测量涂层,以对进料进行质量控制。使用快速、高效且无损的工具有助于在产品线和现场进行质量控制。一台EDX8000测厚仪可以在短短10秒内提供测试结果,并且可以通过单点校准镜头来完善结果,只需30秒即可完成。EDX8000膜厚仪也不...
2022
10-26
XRF合金元素分析仪在锌合金中的检测应用
XRF荧光光谱EDX9000A合金分析仪在锌合金分析中的应用EDX9000A合金分析仪配备一个含35种以上元素的标准包,在几秒钟内可生成合金的化学成分和牌号信息。从简单的分拣到具有挑战性的牌号区分,合金分析光谱仪EDX9000A都会提供高度精细的材料化学成分,以快速准确地辨别纯金属和合金牌号。这些金属和合金包含但不限于以下所列项目:铝合金贵金属铬钼钢不锈钢钴合金工具钢铜合金钛合金异常合金锻铝合金镁合金锌合金镍合金锆合金镍/钴合金本案我们在X射线能量色散荧光光谱分析(XRF)...
2022
10-26
XRF荧光光谱仪在金属镀层定性定量分析中的检测应用
XRF荧光膜厚仪镀层测厚仪EDX8000B在金属镀层定性和定量分析中的应用X射线荧光光谱(XRF)镀层测厚仪EDX8000B广泛应用于在镀层中的定性和定量分析。我们对检测步骤进行了测量和优化.该方法采用每个元素*的特征X射线来确定是否沉积上某种元素;利用FP法快速测定一组在不同浓度的电解液中电沉积所得镀层中的铜元素含量,结果表明该方法可以快速测定镀层中元素含量的变化,该方法具有测试准,投入少,易掌握,速度快等特点X-RAY测厚仪EDX8000B的基本原理X射线广泛用于各种无...
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