Simply The Best 微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计，可分析不规则样品厚度 高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量 高分辨率样品观测系统，可移动高精度样品平台，准确快速定位测试点位 全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及单镀层厚度和材料成分进行测量 搭载高精度手调X-Y平台，使微区测量更便捷

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。