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X荧光光谱仪

简要描述:EDX-8800 MAX X荧光光谱仪是一款多功能台式能量色散X射线荧光 (XRF) 分析仪,适用于从钠 (Na) 到铀 (U) 的元素分析,适用于无机和有机-无机杂化材料、矿物、建筑材料等的批量和痕量分析以及油和燃料、聚合物、塑料、食品、药品、化妆品和环境中的微量元素分析。

  • 产品厂地:苏州市
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-10-29
  • 访  问  量:1163

详细介绍

品牌英飞思行业专用类型通用
重复性0.01%能量分辨率120eV
分析含量范围1ppm-99.999%元素分析范围Na-U
价格区间面议仪器种类台式/落地式
应用领域环保,石油,地矿,电子,综合

EDX-8800 MAX  X荧光光谱仪介绍:

EDX8800 MAX是一款多功能台式能量色散X射线荧光 (XRF) 分析仪,适用于从钠 (Na) 到铀 (U) 的元素分析,适用于无机和有机-无机杂化材料、矿物、建筑材料等的批量和痕量分析以及油和燃料、聚合物、塑料、食品、药品、化妆品和环境中的微量元素分析。

它可以处理各种样品类型,包括固体、压制粉末和松散粉末、液体和过滤器,并在从100% 到亚ppm 水平(对于较重元素)的浓度范围内执行无损定量分析,样品重量从几毫克到千克。 使用FP无标准分析解决方案可获得元素筛选和元素比率。

Rh 阳极X射线管保证轻元素分析的性能。 该光谱仪具有真空可拆卸进样器,可容纳大尺寸样品。

EDX8800 Pro光谱仪可测定固体、液体或粉末、溶液和薄膜、过滤器上的沉积物中从Na(钠)到U(铀)的元素。

光谱仪的操作是基于用X射线管产生的初级X射线照射样品,记录样品元素的荧光,并借助校准方程计算元素浓度,校准方程是元素之间的关系元素注册的二次发射的浓度和强度。该光谱仪具有高分辨率的谱线,因此可以准确测定复杂基质物质中的元素。

EDXRF应用:

贵金属成分分析

控制段塞中的段塞碱含量

有害重金属分析,符合RoHS指令

土壤中有害重金属分析

RPF分析

X荧光光谱仪特征:

集中简单功能实现合理价格

可根据应用轻松定制

安装SDD后,无需液氮或冷却水

快速实现成分的无损分析

针对中等或重金属元素的增强灵敏度

无需设置控制区域

高能分辨率:FWHM<125eV@5.9keV

高计数率:事件计数>2×105cps

可实现电冷,无需液氮


XRF STRUCTURE.png

仪器规格:

光谱仪尺寸:560mm*380mm*410mm

样品室尺寸:460mm*310mm*95mm

真空样品室尺寸:Φ150mm×高75mm

重量:45Kg

元素范围:Na11-U92

分析含量范围:1ppm- 99.99%

探测器:AmpTek 高分辨率 SDD

DPP分析仪:4096通道DPP分析仪

激发源:50W X射线管

高压机组:0-50kV

电源:220ACV 50/60HZ

环境:-10 °C 到35 °C

标准 >可选

Ag-校准标准磨机

真空泵压样机

样品杯干燥箱

USB线熔珠机

电源线平衡

测试Mylar矿物标准样品

校准报告功率稳定器

保修卡


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