XRF荧光光谱仪快速测定硅锰、硅铁合金中硅锰磷硫含量

X射线荧光光谱仪EDX9000B快速测定硅锰、硅铁合金中硅锰磷硫含量

EDX9000B型 X-射线荧光能谱合金分析仪是一种高性能的多元素同时分析系统。

元素分析范围：Na – U, 可满足多种样品类型，如固体，液体，块状，薄膜等。测量的浓度动态范围从ppm – 100%. 可适合多基体，多元素同时分析。 8位滤光片可满足设置多种分析条件，优化分析方法。仪器采用高分辨率SDD检测器，针对痕量元素具有超高探测灵敏度。优化输出的数字脉冲处理器DPP分析器，与用户友好的界面互动，极低的运行和维护费用。

英飞思开发了用XRF压片法样品制备配合EDX9000B光谱仪测定硅锰和硅铁合金中Si、Mn、P、S的试验方法,分析其准确度和精密度。提高了经济效益和社会效益,并将分析结果与国家标准分析结果进行比对，结果证明EDX9000B真空型X射线能量色散荧光光谱合金分析仪满足生产和质量控制需求，符合客户预期。

硅锰中 Si, P, Mn, S 的 ED-XRF9000B型合金分析仪 分析测试结果和谱图如下